Радіоелектроніка та молодь у XXI столітті. Т. 1 : Конференція "Електронна, лазерна та біотехнічна інженерія"

Д. Смірнов; В. Палагін; В. Романчук; А. Гусейнов; К. Тітов; В. Чумаков; В. Подворний; Т. Рожнова; Д. Оніщук; Ю. Хорошайло; М. Доценко; К. Смеляков; В. Ануфрієв; І. Бондаренко; М. Шевченко; О. Бабиченко; О. Дудник; Т. Стрілкова; Є. Матвієнко; С. Бойченко; А. Столяров; М. Пятайкіна; Д. Костін; О. Грицунов; Є. Левченко; М. Глухі; Н. Андрущенко; О. Глухов; П. Гарькавенко; Є. Горбенко; Я. Cкиданенко; С. Бабиченко; О. Галат; К. Олексієнко; В. Кондрат; Е. Лашко; С. Ришко; В. Карнаушенко; Д. Пермякова; В. Головко; Д. Борозняк; І. Даценко; Г. Семенченко; О. Щербина; Л. Свідерська; О. Малихін; К. Селіванова; Д. Коноваленко; А. Любацький; М. Андрущенко; М. Крамчанінов; А. Соколов; О. Аврунін; Є. Гоцуляк; С. Місоченко; К. Посохова; М. Тимкович; В. Новицький; Є. Демиденко; Є. Одаренко; Н. Лук’янов; Ю. Курський

doi:10.30837/IYF.ELBE.2024

МЕТОДИ СТАТИСТИЧНОГО АНАЛІЗУ В СИСТЕМАХ РОЗПІЗНАВАННЯ ОБЛИЧЧЯ

Автори

Т. Стрілкова

Харківський національний університет радіоелектроніки,

А. Столяров

Харківський національний університет радіоелектроніки

М. Пятайкіна

Харківський національний університет радіоелектроніки

DOI: https://doi.org/10.30837/IYF.ELBE.2024.029

Анотація

This research work analyses how face-recognition systems work. It investigates the statistical characteristics of parameters that affect the quality and accuracy of recognition and also presents the results of experiments that influence the accuracy and quality of facial recognition.

Радіоелектроніка та молодь у XXI столітті. Т. 1 : Конференція "Електронна, лазерна та біотехнічна інженерія": матеріали 28-го Міжнар. молодіж. форуму, 16–18 квіт. 2024 р.

##submission.downloads##

T1_RiM_2024.pdf

Сторінки

29-30

Опубліковано

червня 24, 2024

Категорії

ХХVІІІ Міжнародний молодіжний форум «Радіоелектроніка і молодь у ХХІ столітті»

Деталі про цю монографію

ISBN-13 (15)

978-966-659-391-0